变形监测的通用解决方案

Maptek Sentry是操作性强、运营成本低的表面变化监测解决方案。这套系统将I-Site 三维激光扫描数据和精细化软件相结合,实时跟踪并分析边坡表面随时间的位移变化。

Sentry软件能够帮助现场作业人员实时的监测并报告边坡表面的位移情况,从而减少由于边坡失稳对采矿作业的影响。

该系统是如何工作的?

  • 在监测点安装一台 I-site 8820 或8200扫描仪
  • 设置监测区域
  • 在Sentry软件中设定扫描间隔时间
  • 基于用户自定义的条件,利用Sentry分析和处理扫描数据
  • 当位移超过所设定的临界值时Sentry会自动将通知发送至用户邮箱

分析和报告

  • 通过热图显示表面位移情况
  • 用户能够自定义显示颜色来快速识别表面变化
  • 自动生成位移、速度和反速度图表
  • 可将数据导出为PDF 格式以便于信息共享
  • 生成定时拍摄视频以观察位移变化
  • 通过三维视角直观地观察重点区域
  • 数据能够导出到I-Site Studio软件做进一步分析

Sentry的特点

  • 配合测量硬件,监测表面位移
  • 可将同一数据应用于其它测量应用
  • 灵活地跟踪边坡的位移和稳定性
  • 与其它监测系统相比价格更低
  • 专为恶劣矿山环境设计
  • 数据以压缩格式存储,以便快速地分析和处理
  • 监测同一个场景内多个关注的区域
  • 能够与现有的矿山测量系统集成使用
  • 能够用于井下低亮度和夜间监测